SCHUTZ, Fabiane; BEDIN, Lívia Maria; SARRIERA, Jorge Castellá. Propriedades Psicométricas da Escala de Presença em Tecnologias Ubíquas. Psico, [S. l.], v. 51, n. 2, p. e31628, 2020. DOI: 10.15448/1980-8623.2020.2.31628. Disponível em: https://pucrs.emnuvens.com.br/revistapsico/article/view/31628. Acesso em: 22 maio. 2025.